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单温载台(四针)芯片测试机


kaiyun体育app手机下载高功率BAR条自动测试机支持大电流、ns级窄脉冲条件测试,全自动测试BAR条LIV曲线,光谱,远场参数。全自动上下料,支持多种规格料盒上料,支持多种规格料盒或蓝膜下料。支持可变温度测试,温度可由用户自定。向用户开放测量数据库,用于后续筛分工序。


  • 应用
  • 特点
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    • 商品名称: 单温载台(四针)芯片测试机
    • 型号: PSS BarT-HP-ns系列
    • 描述: 100ns窄脉冲测试

    kaiyun体育app手机下载高功率BAR条自动测试机支持大电流、ns级窄脉冲条件测试,全自动测试BAR条LIV曲线,光谱,远场参数。全自动上下料,支持多种规格料盒上料,支持多种规格料盒或蓝膜下料。支持可变温度测试,温度可由用户自定。向用户开放测量数据库,用于后续筛分工序。

    产品应用

    • 设备用于Lidar应用激光器芯片、工业级高功率激光器,医疗与显示等高功率激光器芯片领域

  • 产品特点

    • 支持多种主流规格料盒,全自动上下料,避免转料或人工操作对巴条chip造成的报废

     

     

    • 支持BAR条自动上料、首颗chip识别定位,支持ID识别、自动测试、自动判断BAR条测试结束、自动下料

     

     

    • 吸嘴、探针与BAR条接触压力可调
    自制4探针结构,支持四线制电压测试,电流加电回路低电感设计,支持ns级窄脉冲输出,2个针P极,2个针N极;探针结构支持探针下压力可控调节、支持压力检测

     

     

    • 集成自主开发的大电流30A、窄脉冲100ns测试仪表,支持BAR条LIV、光谱、远场测试

     

     

    • 典型LIV测试曲线

     

     

    • 支持MAP图绘制,方便用户对wafer的性能分布情况分析

     

     

    • 支持NG Chip打点标记,支持简单的芯片外观检查
    • 支持常温、高温测试
    • 多维度可调测量结构,满足用户对不同规格巴条测量需求

  • 参 数

    指 标

    适用巴条尺寸

    长度:15~30mm

    宽度:1~3mm,其他BAR条宽度可定制测试台

    脉冲电流输出

    范围0~30A,精度0.5%rdg±200mA

    脉冲特性

    最小脉宽:100ns,最大占空比:0.1%

    脉冲电压测量

    范围0~40V,精度0.5%rdg±200mV

    四线制,峰值检测

    脉冲电流测量

    范围0~30A,精度0.5%rdg±200mA,峰值检测

    光功率测量

    等效光电流检测量程和精度:

    范围0~5mA,0.5%rdg±25uA,峰值检测

    基础配置支持100W输入光功率,不同功率范围可配置不同的衰减片,支持定制

    远场发散角测试

    范围±45°

    测试效率

    (典型值)[1]

    单颗chip单温度测试时间: LIV+光谱(1个电流点)+ID识别+机械运动总时间<9s(不包含上下料运动时间)

    波长范围

    默认PD:800-1700 nm,短波长可选配400-1100的PD

    高温台温控范围

    室温+15~85℃,精度<±1℃

    工作台温度串扰

    高温台@85℃,常温台相对室温不高于3℃

    常温台温控范围

    25~50℃,精度±1℃

    设备尺寸

    含信号灯及显示器,1250mm×1070mm×1900mm(L×W×H)

    气源要求

    正压:不低于0.4MPa

    负压:如有,不高于-80KPa

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