+
  • 产品01.jpg

EML TO老化测试系统

所属分类:


kaiyun体育app手机下载EML TO集成式老化测试系统 用于EML TO器件的老化筛选以及可靠性寿命分析。系统支持最大1536路器件老化,通过外部环境控温或对器件内部TEC进行高温控温,为LD器件提供恒定电流来实现对EML器件的老化,系统可实时显示老化电流、背光电流、正向电压、EA电流等参数并且图形直观显示,便于用于观察老化过程中的异常情况,通用老化板兼容我司EML TO盘测系统,显著提高测试效率和TO产品质量。


  • 应用
  • 特点
  • 规格
  • 下载
    • 商品名称: EML TO老化测试系统
    • 型号: PSS EMLBI11536/21536
    • 描述: 支持EML TO老化,最高1536路

    kaiyun体育app手机下载EML TO集成式老化测试系统 用于EML TO器件的老化筛选以及可靠性寿命分析。系统支持最大1536路器件老化,通过外部环境控温或对器件内部TEC进行高温控温,为LD器件提供恒定电流来实现对EML器件的老化,系统可实时显示老化电流、背光电流、正向电压、EA电流等参数并且图形直观显示,便于用于观察老化过程中的异常情况,通用老化板兼容我司EML TO盘测系统,显著提高测试效率和TO产品质量。

    产品应用

    • 批量生产环节中EML TO器件进行老化筛选
    • 长时间可靠性失效测试分析

     

     

  • 产品特点

    • 硬件支持SOA供电,完美兼容带PD或SOA的EML激光器
    • 支持Im扫描计算Ith

     

     

    • 32路老化板作为通用载体,可以实现盘测、老化不同工位直接的转料,提高生产效率
    • 每块老化板可配置不同参数进行老化,老化参数稳定可靠

     

     

    • 支持热插拔,完善的EOS防护,保证器件老化期间安全

     

  • 参数

    指 标

    老化规模

    1536

    LD驱动电流

    0~250mA

    SOA驱动电流

    0~250mA

    PD反偏电压

    0~5V

    LD正向电压

    0~5V

    LD监控电流

    0~250mA

    SOA监控电流

    0~250mA

    PD监控电流

    0~2000uA

    EA电压

    0~-5V

    EA电流

    0~200mA

    LIV扫描

    支持Im扫描计算Ith

    温控方式

    支持外部环境控温和TEC控温

    TEC电流范围

    -1A~+1A

    温控范围

    环境温度控温:RT+20℃~150℃

    器件内部TEC控温:RT~130℃

    温度稳定性

    ±0.5℃

    数据库

    系统自带SQL数据库,可以追述保存LD测试的数据

    电源规格

    AC 380V/50HZ

    功率

    AC 380V 7000W


XML 地图