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TO56自动盘测系统

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PSS TO56自动盘测系统,适用于VCSEL/FP/DFB/DML TOCAN的自动测试,采用一块测试板测试64颗4PIN/5PIN FP/DFB TO,支持任意引脚封装测试,支持LIV特性测试、光谱测试。该系统和我司老化箱配套使用,提高工厂生产、测试效率,具有高集成度、高速、高稳定性的特点。


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    • 商品名称: TO56自动盘测系统
    • 型号: PSS PAT5606
    • 描述: 兼容DML/EML TO自动测试

    PSS TO56自动盘测系统,适用于VCSEL/FP/DFB/DML TOCAN的自动测试,采用一块测试板测试64颗4PIN/5PIN FP/DFB TO,支持任意引脚封装测试,支持LIV特性测试、光谱测试。该系统和我司老化箱配套使用,提高工厂生产、测试效率,具有高集成度、高速、高稳定性的特点。

    产品应用

    • VCSEL/FP/DFB/DML/EML/SOA-EML TO-CAN测试
    • TO38/TO56/TO60/TO62的高温、常温测试
    • TO光谱测试
    • TO焦距抽检
    • 同轴封装热电堆电阻测试

     

     

  • 产品特点

    • 支持TO任意封装软件切换测试
    • 支持LIV曲线扫描,步进时间2ms~6s任意配置
    • 支持LD反向漏电流、反向Vbr测试
    • 支持EA的PV曲线测试与DC-ER测试,以及TEC的ACR测试和温度控制

     


    • 支持老化前后对比测试
    • 高温85度盘测

     


    • 支持本地和远程数据库,支持工业生产MES系统

     

  • 参 数

    指 标

    激光器封装类型

    VCSEL/FP/DFB/ DML/EML/SOA-EML器件任意封装类型

    路数

    64路(4PIN/5PIN),32路(7PIN/8PIN)

    LD驱动电流输出

    0 ~ 500mA

    LD正向电压测试

    0 ~ 5.0V

    LD反压输出

    0 ~ 30.0V

    LD反向漏电流测试

    0 ~ 100nA

    LD反向电流输出

    0 ~ 100uA

    LD反向Vbr测试

    0 ~ 30.0V

    MPD反压输出

    0 ~ 5.0V

    MPD暗电流测试

    0 ~ 300nA

    MPD背光电流测试

    0 ~ 3000uA

    光功率检测

    0 ~ 100mW

    EA电压输出

    -5.0V ~ +5.0V

    EA暗电流测试

    0 ~ 1mA

    EA电流测试

    -200mA ~ +200mA

    TEC电流、电压

    -1A ~ +1A、-1.6V ~ +1.6V

    热敏电阻

    NTC,10K@25℃

    TEC温度控制

    -40℃ ~ +100℃

    高温测试

    常温~85℃

    高温加热时间

    典型值10min(常温 ~ 85℃)

    测定项目

    (1)LIV特性 (2) 光谱特性 (3)焦距

    焦距测试

    3mm ~ 20mm,时间18s(非球@典型值)

    电源

    AC100~240V 50/60Hz


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