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COC测试机

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PSS COCT2000支持COC器件(支持DFB/EML/Tunable)常温和高温下的LIV综合测试和光谱测试。与我司COC老化系统配套使用,通过老化前后测试对比,筛选出不良产品。本机具有高集成度、高效率、高稳定性的特点。


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    • 商品名称: COC测试机
    • 型号:
    • 描述:

    PSS COCT2000支持COC器件(支持DFB/EML/Tunable)常温和高温下的LIV综合测试和光谱测试。与我司COC老化系统配套使用,通过老化前后测试对比,筛选出不良产品。本机具有高集成度、高效率、高稳定性的特点。

    产品应用

    • COC LIV测试
    • COC OSA测试
    • LD Chip可靠性验证
    • LD Chip失效分析

     

     

  • 产品特点

    • 采用自动运动控制系统驱动测试探头对不同孔位的器件进行测试
    • LIV测试采用积分球收光测试,收光范围大,重复性高
    • OSA测试采用准直透镜与多模光纤组合收光,自动耦合算法进行耦合
    • 系统采用TEC进行温度控制,温度稳定,升降温速度快
    • 软件可支持多种光谱仪,可定制

     


    • 可靠的加电EOS防护

     

     


    • 重复性测试一致性好

     


    重新放置夹具,同一芯片重复多次测试,一致性结果为:Ith变化<0.8%,Po变化<0.5%。优秀的重复性,大幅降低COC老化测试条件下的误判率,进一步提高生产厂家的良率,降低成产成本。

  • 测试主机参数

    指 标

    电性能参数

    LD驱动电流

    0~500mA

    LD驱动电流检测

    0~500mA

    LD电压

    0~5V

    EA电压范围

    -5V~0V

    EA电流

    0~250mA

    驱动模式

    CW/PW

    支持波长范围

    1000nm~1600nm

    温控参数

    温度范围

    15°C~100°C

     

    升温速度

    典型值:6°C/Min

     

    降温速度

    典型值:5°C/Min

     

    温度稳定性

    典型值:±0.3°C

     

    温度一致性

    典型值:±1°C

    上位机

    共享

    共享dll

     

    数据库

    系统自带SQL数据库,支持远程数据库和MES系统

    单颗测试时间

    LIV综合测试

    1.5S

     

    光谱测试

    2S,典型值(单点测试光谱)

    安装需求

    指 标

    备注

    系统电源

    AC 220V  50HZ

    两相三线制

    测试主机额定功率

    0.5KW

     

    工作环境温度

    25℃±2℃

     

    主机占地

    4㎡

     

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