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产品应用
• COC LIV测试
• COC OSA测试
• LD Chip可靠性验证
• LD Chip失效分析 -
产品特点
• 采用自动运动控制系统驱动测试探头对不同孔位的器件进行测试
• LIV测试采用积分球收光测试，收光范围大，重复性高
• OSA测试采用准直透镜与多模光纤组合收光，自动耦合算法进行耦合
• 系统采用TEC进行温度控制，温度稳定，升降温速度快
• 软件可支持多种光谱仪，可定制
• 可靠的加电EOS防护
• 重复性测试一致性好
重新放置夹具，同一芯片重复多次测试，一致性结果为：Ith变化＜0.8%，Po变化＜0.5%。优秀的重复性，大幅降低COC老化测试条件下的误判率，进一步提高生产厂家的良率，降低成产成本。 -
测试主机参数
指 标
电性能参数
LD驱动电流
0~500mA
LD驱动电流检测
0~500mA
LD电压
0~5V
EA电压范围
-5V~0V
EA电流
0~250mA
驱动模式
CW/PW
支持波长范围
1000nm~1600nm
温控参数
温度范围
15°C~100°C
升温速度
典型值：6°C/Min
降温速度
典型值：5°C/Min
温度稳定性
典型值：±0.3°C
温度一致性
典型值：±1°C
上位机
共享
共享dll
数据库
系统自带SQL数据库,支持远程数据库和MES系统
单颗测试时间
LIV综合测试
1.5S
光谱测试
2S,典型值（单点测试光谱）
安装需求
指 标
备注
系统电源
AC 220V 50HZ
两相三线制
测试主机额定功率
0.5KW
工作环境温度
25℃±2℃
主机占地
4㎡
关键词：
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